Konferencja ATT 2023 i jubileusz kwartalnika TIAM

czas czytania: 3 min
WHEN?
04/07/2023 12:00 am

WHERE?

Warszawa

W dniach 4–7 lipca 2023 r. pracownicy Sieć Badawcza Łukasiewicz – Warszawskiego Instytutu Technologicznego (Łukasiewicz – WIT) uczestniczyli w międzynarodowej konferencji naukowej „12th International Conference on Assembly Techniques and Technologies. ATT 2023”.Wydarzenie to zostało zorganizowane wspólnie przez Wydział Budowy Maszyn i Lotnictwa Politechniki Rzeszowskiej oraz Łukasiewicz – WIT.

Konferencja była okazją do zapoznania się z wynikami prac badawczo-rozwojowych związanych
z procesami przemysłowymi, w tym modelowaniem procesów i systemów montażowych oraz zagadnień związanych z bezpieczeństwem maszyn i urządzeń w ruchu lądowym, powietrznym i morskim. Ze strony Łukasiewicz – WIT zostały zaprezentowane wyniki prac badawczo-rozwojowych dotyczące konstrukcji absorberów energii przeznaczonych do stosowania w strukturach ochronnych pojazdów elektrycznych i lekkich maszyn transportowych z napędami konwencjonalnymi.

Przedstawiciel Centrum Maszyn Roboczych i Automatyzacji Produkcji Łukasiewicz – WIT, mgr inż. Andrzej Barszcz, zainteresował uczestników prezentacją na temat „Hybrydowych konstrukcji pochłaniających energię uderzenia”. Omówił wyniki przeprowadzonych prac badawczych i ich potencjalne zastosowanie, a podczas późniejszej dyskusji poruszono problem dostępności nowoczesnych rozwiązań technologicznych dla przedsiębiorstw z sektora MŚP.

Integralną częścią konferencji były uroczyste obchody 30-lecia działalności kwartalnika „Technologia i Automatyzacja Montażu”, wydawanego wspólnie przez Oficynę Wydawniczą Politechniki Rzeszowskiej oraz Łukasiewicz – WIT. Dyrektor Instytutu, dr inż. Marcin Kruk, wygłosił z tej okazji okolicznościowe przemówienie, podkreślające zasługi prof. dr hab. inż. Jerzego Łunarskiego i całego zespołu redakcyjnego dla rozwoju kwartalnika TIAM.

W trakcie konferencji przeprowadzono szereg rozmów, które mają szansę zaowocować współpracą  w zakresie badawczym i produkcyjnym.

Dowiedz się więcej

Przeczytaj Również

This will close in 0 seconds